滬市大盤技術(shù)性反彈后將再下探
2013-06-14   作者:股海燈塔  來源:經(jīng)濟(jì)參考報
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  今天,受端午節(jié)期間外盤大跌及國內(nèi)5月經(jīng)濟(jì)數(shù)據(jù)低于預(yù)期影響,滬深兩市低開低走,盤面?zhèn)股普跌,所有板塊資金均為凈流出。
  觀察盤面,滬市大盤股指跳空低開在256日均線(2198.87點)之下,讓日線圖上出現(xiàn)向下破位的突破性缺口,一般突破性缺口后面還會出現(xiàn)持續(xù)性缺口和衰竭性缺口。不過,由于大盤的快速殺跌,讓股指與短期均線之間乖離率增大,股指有向上靠近短期均線的欲望。因此,筆者認(rèn)為大盤技術(shù)性反彈以后將再下探,股指向上反抽3日和4日均線,修正分時圖上短線超買的技術(shù)指標(biāo)以后再度下殺擊破今天的低點。
  滬市大盤60分鐘圖上的4小時線(2141.59點)暫時成向下運行趨勢,對收在上方的股指具有向下反作用力;15分鐘圖上的MACD指標(biāo)線與KDJ指標(biāo)線形成金叉共振,顯示對應(yīng)級別反彈還有上沖動能。因此,明天大盤股指會先回踩2141點,再上拉沖擊并突破15分鐘圖布林帶中軌(2155.64點),尾盤小幅回落。
  明天,滬市大盤股指向上反彈的盤中壓力位分別是2161點和2175點,強(qiáng)壓力位2190點;回落調(diào)整的盤中支撐位分別是2133點和2121點,強(qiáng)支撐位2100點。
  單純從技術(shù)指標(biāo)分析,滬市大盤日線圖上的KDJ指標(biāo)線運行在低位勾頭朝上,表明股指再度殺跌會出現(xiàn)對應(yīng)級別的反彈;按照股指與短期均線之間相互具有引帶力的原理,股指有向上反抽3日均線的欲望;不過,大盤周線圖上的MACD指標(biāo)綠色柱增長和MA指標(biāo)線與KDJ指標(biāo)再度形成死叉共振,顯示周線級別調(diào)整風(fēng)險暫未徹底解除;大盤出現(xiàn)技術(shù)性反彈以后還有調(diào)整的低點可見。因此,筆者認(rèn)為大盤沒有擊破今天低點之前的盤中反彈不能追漲,但是,如果股指沒有反抽2151點就直接向下殺跌的話,可低吸搶反彈。
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